目前常用的測(cè)試電子電工產(chǎn)品，芯片光電產(chǎn)品，塑料制品等產(chǎn)品的設(shè)備非高低溫試驗(yàn)箱莫屬，這是一種測(cè)試產(chǎn)品高溫貯藏性能和低溫抗裂性能的常用儀器，在當(dāng)今社會(huì)中應(yīng)用廣泛。它的測(cè)試可以設(shè)置程序周期測(cè)試，在測(cè)試過(guò)程中，若是測(cè)試循環(huán)過(guò)程出現(xiàn)失敗，我們應(yīng)該從哪方面找原因呢？

　　1、在溫度循環(huán)試驗(yàn)中，高低溫試驗(yàn)箱溫度均勻度和溫度波動(dòng)度是一項(xiàng)非常重要的參數(shù)，它會(huì)影響產(chǎn)品的溫度變化率。當(dāng)箱內(nèi)有多個(gè)試驗(yàn)產(chǎn)品同時(shí)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試產(chǎn)品與測(cè)試箱之間應(yīng)該有一個(gè)適當(dāng)?shù)木嚯x，使箱內(nèi)的氣流能夠循環(huán)通暢。

 

　　2、箱內(nèi)的敏感元件也是誘發(fā)溫度循環(huán)應(yīng)力失效的原因之一：根據(jù)不同膨脹系數(shù)的材料膨脹情況有所不同，會(huì)導(dǎo)致其敏感元件出現(xiàn)剝離、開(kāi)裂的情況，其敏感元件如漆膜、涂層等。

 

　　3、溫度循環(huán)使螺釘連接處松動(dòng)或連接不牢以及機(jī)械張力不夠壓緊接頭發(fā)生松動(dòng)，高低溫試驗(yàn)箱溫度循環(huán)使材料不良的釬焊接觸電阻增大或誘發(fā)開(kāi)路。

 

　　在高低溫試驗(yàn)箱發(fā)生故障時(shí)，需要快速找出問(wèn)題所在并且解決，千萬(wàn)不要一拖再拖，導(dǎo)致設(shè)備出現(xiàn)更重要的問(wèn)題時(shí)再“亡羊補(bǔ)牢”，那就為時(shí)已晚了。更多關(guān)于高低溫試驗(yàn)箱的行業(yè)咨詢(xún)盡在林頻，期待您的持續(xù)關(guān)注。